물 품 구 매 규 격 서

품 명	한글	입자측정장치
	영문	Particle Size Analyzer
(나라장터) 물품분류번호				41113903-25716755
수량	1		단위		SYS	관련교과		반도체 화학 공정 (Chemical Proc ess of Semiconductor)
설치장소	E8-10동 715호						전화번호		010-3365-9914
공동활용	O
상 세 규 격(부속품 포함)
1. 특징 1) 기기의 고강도 측정 광학 장치를 통해 감도가 매우 낮은 신호도 정확하게 감지할 수 있으면서, 단단한 케이스는 진동의 영향을 감소시키며 먼지나 온도변동에 의해 결과값들이 변하는 것을 방지해 줘야 함. 2) 연속적인 투과율 측정은 측정시간, 광원 초점위치, 광원 밀도 같은 파라미터 값들이 자동적으로 보정되도록 해줘야 함. 3) 두 가지 혹시 세 가지 혼합된 입자들도 정확히 구분할 수 있어야 함. 2. 세부규격 • 일반 1) 측정 항목 : 2 (입도, 투과율) or 그 이상 2) 온도범위 : 0℃ 에서 120℃ or 그 이상 3) 레이저 광원 : 반도체 레이저 40mv, 658nm or 그 이상 4) 응결 제어 : Purge using dry air 5) 습도 : up to 90% non-condensing 6) 검출기 : APD • 입자크기 1) 범위 : 0.3nm ~ 12um or 그 이상 2) 최소 시료량 : 12ul or 그 이하 3) 감도 : 0.1mg/ml(lysozyme) or 그 이상 4) 최대 측정농도 : 50% w/v or 그 이상 5) 측정 검출기 각도 : 175 or 그 이상 6) 측정시간설정 : 자동 7) 광원 밀도 조절 : 자동 8) 광원 초점 조정 : 자동 9) 분석 알고리즘 : NNLS using Tikhonov regularization, CONTIN • 투과율 1) 측정범위 : No limit 2) 측정시간 : 10s

• 장비 운용 사항 및 소프트웨어

1) 소프트웨어

- 단일 페이지 표시: 한 페이지에 입력 파라미터, 측정 값 표시

- 분석 탭: 한 페이지에 기본or 사용자 지정 양식으로 다른 실험 값들 비교 분석

- 표준 기준: ISO 22412, ISO 13099, ASTM E2490

2) 운영 컴퓨터

- 운영소프트웨어: Window10 Home 64bit or 그 이상

- 중앙처리장치: Intel i5 or 그 이상

- 메모리: 4GB DDR4 or 그 이상

3. 표준 및 부속품

• 구성

1) 입도제타전위 측정기 - 1set

2) 장비운용 컴퓨터 - 1 set

• 부속품

1) 큐벳 랙 - 1 pcs

2) 열 단열 커버 - 1 pcs

3) 일회용 입도큐벳(100ea/1box, 수용액) - 1 box